为新型工业控制器搭建硬件在环(HIL)系统时,测试计划要求仿真典型传感器信号中的高压瞬态。连接信号、配置软件并运行序列后,测试失败:PXI 机箱中的标准函数发生器卡输出峰值仅为 ±10 伏,而实际传感器需要 ±25 伏的扫描才能触发正确的故障码。硬件限制导致整个验证流程中断。
这一场景反映了硬件验证中的常见瓶颈。标准函数发生器和通用模拟输出卡能够胜任简单任务,但在测试需要高电压、高通道密度和相位连续频率控制时便无法满足需求。工程师需要的是能够满足特定严苛标准、且无需重建整个测试架构的工具。
本文探讨基础函数发生器之外的模块能力,聚焦能够提供可靠长期性能的解决方案。
41-625(PXI)和 43-625(PXIe)波形发生器为搭建功能测试和硬件在环系统的工程师提供了实用的解决方案。这些模块具备更宽的输出范围和频率范围、精确的控制能力、波形多样性,以及当今 HIL 系统所需的时序与同步功能。两个版本均占用单个机箱槽位,并提供高通道密度,可选 8、16、24 或 32 通道配置。这种密度使测试工程师能够用紧凑的集成方案替代机架式的低密度台式仪器。
这些先进规格直接转化为现场应用。主要用例之一是在整个产品生命周期中仿真加速度计,包括实验室设计验证、制造车间的自动化生产测试,以及现场维护检查。高通道密度和宽电压范围支持同时仿真多个传感器,使被测设备承受与真实工况一致的应力。
下表重点展示了 Pickering 模块与主要竞争对手在关键性能等方面的对比情况。
| 规格 | Pickering 41/43–625 | NI PXIe-6738 | Marvin GX1632e | Marvin GX1649 系列 |
|---|---|---|---|---|
| 制造商及型号 | Pickering Interfaces 41–625 (PXI) / 43–625 (PXIe) 波形发生器 | NI PXIe-6738 模拟输出模块 | Marvin Test Solutions GX1632e | Marvin Test Solutions GX1649 系列 |
| 主要功能 / 拓扑结构 | 多通道函数及任意波形发生器。支持正弦波、方波、三角波、斜波和任意波形。 | 静态和动态模拟输出模块。通过主机流式 AO 更新实现波形生成。 | 多通道任意波形发生器。 | 多输出选项的任意波形发生器系列。 |
| 分辨率 | 16 位 | 16 位 | 16 位 | 16 位 |
| 每通道输出电压范围 | ±25V | ±10V | ±25V | ±15 V |
| 通道数 | 32 | 32 | 32 | 64 |
| 外形规格 | PXI(41-625)和 PXIe(43-625)。PXI 版本兼容 Pickering LXI/USB 模块化机箱 | PXIe | PXI | PXI |
| 隔离 | 隔离通道架构,支持传感器级模拟 | 非隔离(接地参考 AO) | 未指定 | 未指定 |
| 质保 | 3 年标准 | 1 年标准 | 1 年标准 | 1 年标准 |
41/43-625 波形发生器在以下方面具有优势:输出电压更高、型号选择更丰富以适配特定应用,并支持 PXI、PXIe 和 Pickering LXI/USB 测试系统的多种格式。此外,与共地的模拟输出卡不同,该波形发生器采用隔离通道架构,可在 HIL 和功能测试系统中实现精确的传感器级仿真。最后,一如既往,提供三年质保和有保障的长期支持(通常为 15-20 年)。
总之,先进的测试系统需要能够消除瓶颈并提供可靠、可重复数据的硬件。41/43-625 系列函数发生器可从上述五个方面提升 HIL 验证,包括复杂功能测试所需的高电压、通道密度和精确控制,同时能够无缝集成到现有平台,并为对稳健性要求高的行业提供所需的长期支持。
如需提升测试能力并缩短周期时间,请查阅 41-625 和 43-625 系列的完整规格。
如需了解 HIL 传感器仿真、波形生成或定制信号路径,请与 Pickering 联系。